专利名称：用于光学测量的系统和方法专利类型：发明专利发明人：凯姆.C.刘,刘元群申请号：CN200580027798.8申请日：20050816公开号：CN101065640A公开日：20071031
摘要：一种光学测量系统，组合使用光学干涉仪(406)与光学自准直仪(408)，以增加用发出单束激光(403)的激光器(400)进行的平移、摇摆和俯仰测量数。用干涉仪(406)内的条纹计数器(426)进行平移测量。用自准直仪(408)内的侧向效应光电二极管(434)进行摇摆和俯仰测量。回射的目标物光束(409)内的角偏离效应可通过反向望远透镜组件(428)最小化，从而可在不显著降低平移测量精度的情况下测量更宽的角度范围。
申请人：凯姆.C.刘,刘元群
地址：美国马里兰州
国籍：US
代理机构：北京市柳沈律师事务所
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